取組み背景

電子機器のEMC対策は、搭載LSIの高速化・高集積化・高機能化等により年々難しくなってきています。（製品レベルでは）対策部品の追加や回路基板の再設計といった機器開発・製造コストを押し上げる要因となっており、この対策の一つとしてLSI間の比較も試みられるようになりました。

ところがLSI単体では標準的なEMC測定方法というものが存在せず、データが取得されていない場合や、方法の差異から比較できないというような問題が指摘されるようになりました。
こうした背景から1998年2月に「半導体EMC測定方法PG」が組織されました。
2005年度からは、PGを「半導体EMC-サブコミティ」とし、それまでの測定方法に解析用モデリングも加えた「半導体EMC測定方法WG」と「半導体EMCモデリングWG」から成る体制で活動していましたが、2016年よりIECでの規格審議状況とWGでの役割を明確にするために、「規格審議WG」「実証実験WG」「広報WG」の体制での活動を行っています。

また、2018年度より、「半導体EMC性能等価性評価法WG」を設置し、IEC規格　半導体EMC測定法を用いた半導体製品の標準的なEMC性能比較方法としての標準化提案を目的とした活動を行っています。

問合せ先

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