モデリング

活動目的

半導体EMC-SCでは、ＥＭＣモデリング手法について以下の活動しております。

  • EMC（EMIとイミュニティ）シミュレーション方法の検討・実証
  • LSI特性が機器EMCに及ぼす影響についての正しい理解
  • 国際電気標準化会議(IEC)の技術ワーキンググループ(SC47A/WG2※)への参画、及び標準規格策定・審議。SC47A/WG2 Convernor/Exportsを派遣。

 

 

ICのEMCモデリング手法　IEC 62433シリーズ

ICのEMCモデリング手法　IEC 62433シリーズ規格一覧

ドキュメント メカニズム モデリング法 ステータス
IEC 62433

シリーズ

 - Part1 General modelling framework IS,2019/COR1:2020
Conducted Emission Part2 Models of Integrated circuits

for EMI behavioural simulation

-Conducted emissions modelling (ICEM-CE)

 IS,2017
Part2-1 Theory of black box modelling for conducted emission TR,2010
Radiated Emission Part3 Models of Integrated circuits

for EMI behavioural simulation

-Radiated emissions modelling (ICEM-RE)

 IS,2017
Conducted Immunity

 Part4 Models of Integrated circuits

for RF Immunity behavioural simulation

-Conducted immunity modelling (ICIM-CI)

 IS,2017
Part4-1 Technical Report on the use of ICIM-CI model (IEC 62433-4) to predict the IC conducted immunity in a PCB TR審議中
Radiated Immunity Part5 -----(ICIM-RI) 未提案
Pulse Immunity Part6 Models of Integrated circuits

for pulse immunity behavioural simulation

-Conducted Pulse Immunity (ICIM-CPI)

 IS,2020

IS:International Standard (国際規格)、TS:Technical Specification (技術仕様書)、TR:Technical Report (技術報告書) FDIS:Final Draft International Standard (最終国際規格案)、NP:New work item Proposal (新業務項目提案)

 

 

IEC 62433 Part2 Conducted Emissions modelling (ICEM-CE)

名称

IEC 62433-2;EMC IC modelling –Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation -Conducted emissions modelling (ICEM-CE)

目的

ICの伝導エミッションをモデル化する手法

概要

  • ICをIA、PDN、IBCという要素でモデル化
  • IAはICの内部動作を時間領域・周波数領域、電流源・電圧源の特性で表現したもの
  • PDNは集中定数、分布定数、Sパラメータ等、様々な表現が許されている
  • Annexにはこれらのモデルの抽出方法の例が記載されている

モデルの概要

 

IEC 62433 Part3 Radiated Emissions modelling (ICEM-RE)

名称

IEC 62433-3;EMC IC modelling -Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation -Radiated emissions modelling (ICEM-RE)

目的

ICの放射エミッションをモデル化する手法

概要

  • ICをIA、PDNという要素でモデル化
  • IAは、放射エレメントの励振源を示す周波数領域で表され、振幅と位相の特性を含む
  • PDNは、パッケージ構造等の受動素子であり、放射アンテナのように振る舞う
  • Annexにはこれらのモデルの抽出方法の例が記載されている

 

IEC 62433 Part4 Conducted Immunity modelling (ICIM-CI)

名称

IEC 62433-4;EMC IC modelling –Models of integrated circuits for RF Immunity behavioural simulation -Conducted immunity modelling (ICIM-CI)

目的

ICの伝導イミュニティをモデル化する手法

概要

  • ICをIB、PDN、IBCという要素でモデル化
  • IBは妨害信号を与えた時のICの誤動作を表現した
  • PDNは集中定数、分布定数、Sパラメータ等、様々な表現が許されている
  • DIは妨害信号が入力される端子、DOはDI端子のインピーダンスに影響を及ぼす端子であり、DIの妨害信号の一部が伝播する、OOはIC誤動作をモニタする端子

 

IEC 62433 Part6 Conducted Pulse Immunity (ICIM-CPI)

名称

IEC 62433-6;EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI)

目的

ICのパルス波形に対する伝導イミュニティをモデル化する手法

概要

  • ICをFB、PDN、NLBという要素でモデル化
  • FBはパルス波形を与えた時のＩＣの誤動作、破壊等を表現
  • PPN(Pulse Propagation Network)は、PDNとNLB(Non Linear Block)から構成され、パルス波形の伝播を模擬する
  • NLBはESD保護デバイスの非線形回路を模擬しており、TLP(Transmission Line Pule, IEC 62615) 等により抽出される

 

 

モデルを用いた活用法

はじめに

 

 

 

 

 

 

IEC 62433 Part2 ICEM-CEを用いた解析事例

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

IEC 62433 Part4 ICIM-CIを用いた解析事例

DPI法における誤動作耐量をICIM-CIで模擬

 

 

 

 

 

 

 

 

パスコンによる耐量向上効果の予測

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

お願い

本W.P.(WEB Page)は、LSI単体のEMCモデルが正しく活用され、産業界での混乱を未然に防止するため、本SCでの検討内容などを公開するものです。
必要に応じて、利用上の注意や解析例なども掲載し、利用者の皆様の理解向上に努めさせていただきたいと考えております。
上記のような目的で公開しています関係上、技術的に十分検討がされてない箇所、不適切な箇所がある場合があるかと思います。そのようなところがありましたら『問合せ先』にご指摘いただければ幸いです。内容は当SC.で検討しW.P.上で回答させていただきます。