半導体EMC-SCでは、規格に参考として載せられるクライテリアの妥当性の検証を行い、規格の有用性を評価するために実証実験を行っております。またこの実証実験は、活動内で必要な技術情報が生成されているため、参加企業で共有し議論出来るオープンな環境構築にもなっております。

目的

実証実験W.G.は、以下の目的に沿って活動しております。

規格提案／審議の事前実験と実証
半導体規格の有用性探求（上位にあたるセット規格との関係整理）

活動概況

規格提案／審議の事前実験と実証
- 日本提案の「Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers – Part 7: CXPI transceivers（IEC 62228-7）」に向け、実証実験による規格案作成と確認を推進中
- モデリングの規格活動もCXPIの実証実験結果を活用し、推進中
半導体規格の有用性探求（上位にあたるセット規格との関係整理）
- 車載部品規格（BCI、CISPR25）の実験にて、半導体規格との関係性を整理
- 半導体規格の技術的ガイド策定を推進

お願い

本H.P.（Home Page）は、ＬＳＩ単体のＥＭＣ測定方法が正しく運用され、産業界での混乱を未然に防止するため、本ＷＧでの検討内容などを公開するものです。
必要に応じて、利用上の注意や測定例なども掲載し、利用者の皆様の理解向上に努めさせていただきたいと考えております。
上記のような目的で公開しています関係上、技術的に十分検討がされてない箇所、不適切な箇所がある場合があるかと思います。そのようなところがありましたら『問合せ先』にご指摘いただければ幸いです。内容は当W.G.で検討しH.P.上で回答させていただきます。