目的

半導体EMC測定方法は、IEC SC47A WG9にて規格化の議論が行われています。　日本のナショナルコミティとして、JEITA半導体EMCサブコミティの規格審議WGが以下の目的に沿って活動しております。

• 国際電気標準化会議（IEC)検討技術委員会（SC47A/WG9）への参画と国際規格審議と投票
• LSI特性が機器EMCに及ぼす影響についての正しい理解
• LSI単体でのEMC（EMIとイミュニティ）測定方法の検討
• 標準測定方法が正しく運用されるための技術検討とサポート
• 標準測定方法の利用メリット、適用限界などの検討

なお、現状、本WG及び上記WG9では、測定方法のみを規格化対象としており、 上限値等の規制値については審議しておりません。

お願い

本H.P.（Home Page）は、ＬＳＩ単体のＥＭＣ測定方法が正しく運用され、産業界での混乱を未然に防止するため、本ＷＧでの検討内容などを公開するものです。
必要に応じて、利用上の注意や測定例なども掲載し、利用者の皆様の理解向上に努めさせていただきたいと考えております。
上記のような目的で公開しています関係上、技術的に十分検討がされてない箇所、不適切な箇所がある場合があるかと思います。そのようなところがありましたら『問合せ先』にご指摘いただければ幸いです。内容は当W.G.で検討しH.P.上で回答させていただきます。