IECでは、半導体EMC測定法の規格化が一通り完了し、システムレベルを意識したトランシーバ(通信）ICの測定規格の審議が進んでいます。現在のWG9会議では、Part6: PSI5, Part7:CXPIの審議を行っています。
トランシーバー測定法は、ICをEMC評価基板上に2つ実装し、実際のプロトコルに従って通信させている状態でのEMI/EMS評価を行います。ESD評価は、未通電状態での評価を行いますが、Ethernetトランシーバでは、通電状態での試験が追加されています。
なお、試験方法は、半導体EMC測定規格を参照しています。
―EMI (IEC 61967-4) RF Emission 150Ω法
―EMS (IEC 62132-4) RF Immunity DPI法
―EMS (IEC 62215-3) Impulse Immunity Non Syncronus Transient injection
―ESD (ISO 10605）Contact Discharge
| ドキュメント | 概要 | 測定法 | ステータス |
| IEC 62228 シリーズ |
- | Part1 General conditions and definitions | IS 発行済み,2018 |
| Evaluation of bus transceivers |
Part2 LIN transceivers | IS 発行済み,2016 | |
| TS CAN transceivers | TS 発行済み,2007
⇒廃版 Part3へ置き換え |
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| Part3 CAN transceivers | IS 発行済み,2019 | ||
| Part4 FlexRay transceivers | <審議前＞ | ||
| Part5 Ethernet transceivers | IS 発行済み,2021 | ||
| Part6 PSI5 transceivers | IS 発行済み,2022 | ||
| Part7 CXPI transceivers | IS 発行済み,2022 | ||
| Part8 SENT/SPC transceivers | ＜審議前＞ | ||
| Part9 LVDS transceivers | ＜審議前＞ |