活動
半導体メーカの再編、構造改革による半導体製造ラインの移転等により同一半導体製品を供給し続けることが難しくなっています。機器によっては半導体製品を変更する場合、EMC性能試験を再度求められる場合があります。ECUメーカ各社、またECUメーカの各製品に対する再評価をすべて実施するのは費用と時間を要し、また車両の再評価まで必要となるとさらに費用、時間が必要になります。
そのためPCNを実施するには半導体メーカ、ECUメーカの協議は長期間になり、代替半導体への切替えは円滑に進まない現状があります。この課題を解決するために、代替品の半導体のEMC性能が等価であるというエビデンスを示すことで機器のEMC試験項目を削減できないかと考えました。変更前の機器はEMC性能が確保できており、半導体以外に変更点がなく、その半導体のEMC性能に差異が無いことが示すことができれば、半導体メーカ、機器メーカの双方の部品切換え労力は大きく軽減できると考えています。半導体EMC性能等価性評価WG ではこのような課題に対し、半導体製品のEMC性能等価性を確認する標準的な方法をJEITA規格として制定しました。またこのJEITA規格は日本自動車技術会規格 (JASO規格)からも引用され、自動車用半導体の切替スキームに適用されています。
活動報告
制定しました規格の理解と活用促進を目的にフォーラムを開催しています。
(1) JEITA規格(半導体)オープンフォーラム2019 (2019/12/05)
制定予定のJEITA規格内容と評価事例を頂いた意見を参考にさせていただき本フォーラム後、JEITA規格を発行しました。(2020年7月制定)
(2) JEITA規格(半導体)オープンフォーラム2021 (2022/02/18)
制定いたしましたJEITA規格、および引用いただいたJASO(日本自動車技術会)規格を
活用した大規模PCN事例を報告し、432名の方に参加いただきました。
関係ドキュメント
関係ドキュメントは下記から入手願います。
(1) JEITA ED-5008 半導体EMC性能等価性評価法
(2) JASO D019:2021 自動車用半導体EMC性能等価性試験法