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第122号 LPBニュース 2025年2月18日配信
半導体&システム設計技術委員会編集
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★★★★★ 今回のトピックス ★★★★★
■第17回LPBシステムソリューションフォーラム アブスト掲載!
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■第17回LPBシステムソリューションフォーラム お申込み受付中!
お申込みはこちら:https://www.jeita.or.jp/form/custom/407/form
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日時: 2024年3月7日(金)13:30〜17:00(13:00〜受付開始)
会議方式:リアル+オンライン(リアル開催はTKP東京駅大手町カンファレンスセンター)
詳細 URL:http://jeita-sdtc.com/2025/02/lpbforum17/
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LSI - Package - Board(略してLPB)の協調設計を議論する誰でも参加できるコミュ
ニティーとして開催してきましたLPBフォーラムも17回目を迎えます。今回より名称を
「LPBシステムソリューションフォーラム」に変更し、LPBを中心に上位委員会である
半導体システムソリューション技術委員会からの活動報告も致します。
皆様奮ってご参加ください。
リアル会場に加えて、Web参加も可能なHybrid形式で実施予定です。リアル会場に
おいては懇親会も開催します。LPBを身近に感じ、同じ悩みや課題を持つ方々の間で
ネットワークを広げて頂く良い機会となりますので、多くの皆様にご参加いただき、
有意義な交流の場として頂ければ幸いです。
プログラム
1.開催にあたって 東芝デバイス&ストレージ(株)福場義憲氏
2.LPB概要の説明 ソニーセミコンダクタソリューションズ(株)村岡利治氏
3.EMC検証 弘前大学 金本俊幾先生
4.電源回路のEMI設計フロントローディング検証 コニカミノルタ(株)野村毅氏
5.PIのフロントローディング キヤノン(株)林靖二氏
6.パワエレ機器設計環境整備ワーキンググループ設立に向けて
東芝デバイス&ストレージ(株)福場義憲氏
7.休憩
8.AI・チップレット等先端半導体パッケージング構造設計の現状と課題
半導体構造設計技術SC 大阪大学 吉田浩芳先生
9.ヘテロジーニアスインテグレーションGaN SiPにおけるSub-nsテスト技術
マルチチップ調査TG ローム(株)佐藤賢央氏
10.閉会の挨拶・連絡事項・アンケート記入
ソニーセミコンダクタソリューションズ(株)村岡利治氏
アブストラクト
4.電源回路のEMI設計フロントローディング検証
EMC&電源設計実証TG ではEMIのフロントローディングの姿を具体的に描き、課題と
解決手段を議論します。 今回はLEDドライバ回路を題材として選定し、評価基板の作成、
デバイスモデルの策定、実測検証、 MBSEによるフロントローディングフローの作成を
計画しています。
5.PIのフロントローディング
半導体の低電圧、高速化の進展により、パワーインテグリティ(PI:Power Integrity)
は依然として解決すべき重要課題です。難しさの増すPIを解決するためには、設計の
やり方も進化させる必要があります。システムフロントローディングWGでは、
WGメンバーによりPIを解決する設計の進め方を議論し、必要な工程、項目の抽出を行い、
MBSE的手法を用いて可視化しました。本フォーラムでは、従来のPI設計の課題や目指す
べきPI設計フローについて報告します。
6.パワエレ機器設計環境整備ワーキンググループ設立に向けて
パワエレ機器は扱う電力が大きく低損失や放熱など考慮した特殊な構造を持つことが
多くある。 それに実装される半導体もカスタムの設計が必要であり、システムの要求を
取り入れ機器と半導体の協調設計が必要である。 JEITAにパワエレ機器の設計環境を議論
し協調設計を実現するためのワーキンググループの設置を目指しておりその紹介を行う。
8.AI・チップレット等先端半導体パッケージング構造設計の現状と課題
AI・チップレット等先端半導体が半導体市況を牽引しているが、 これら先端半導体
パッケージングの構造設計の現状と課題について、 JEITA半導体標準化委員会の活動も
織り込んで紹介します。
9.ヘテロジーニアスインテグレーションGaN SiPにおけるSub-nsテスト技術
現在、GaNの性能を最大限に発揮するために、ドライバーICと組み合わせた異種チップ
統合SiPの開発が進んでいます。 特に、GaNはスルーレートが速く1ns以下の時間をテスト
する必要があります。そこで、量産テストに導入可能な Sub-ns時間測技術の原理と
実験結果を紹介します。
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LSI・パッケージ・ボード(LPB)相互設計規格である国際標準IEC 63055/
IEEE 2401-2019は下記URLからご購入できます。
https://standards.ieee.org/standard/2401-2019.html
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