新設:モデルベース・システム設計ワーキンググループ
~開発上流からのEMC・ESD-EOS(Electric Over Stress)・熱、ノイズ、電力消費対~
背景と目的
電子機器の開発途上にいてはEMC(ESD-EOSによる性能劣化・誤動作含む)、熱、ノイズ、電力消費等様々な問題が発生し、開発遅延やコストアップを招きます。JEITA 半導体&システム技術委員会ではこれらの課題を上流で解決するフロントローディング設計手法を議論するワーキンググループの設立を計画しており、参加メンバーを募集します。



